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掃描型紫外/可見分光光度計(jì)

1.采用高精度細(xì)分系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)光柵,保證了波長(zhǎng)準(zhǔn)確

性、波長(zhǎng)重復(fù)性和更高分辨率。

2.斷電保持:斷電時(shí)可保持內(nèi)存的測(cè)量數(shù)據(jù)不丟失。人性化的外型設(shè)計(jì)、29位觸摸式按鍵,使您的

操作更為方便。

  • 產(chǎn)品型號(hào):UV-2802
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2018-10-10
  • 瀏覽次數(shù):926
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產(chǎn)品詳情

掃描型紫外/可見分光光度計(jì)


型號(hào):UV-2802
 
儀器資料:
 
技術(shù)參數(shù)
 
儀器型號(hào)
 
UV-2802
 
光學(xué)系統(tǒng)
 
單光束,1200條/毫米全息光柵
 
波長(zhǎng)范圍
 
190-1100nm
 
波長(zhǎng)精度
 
±0.2nm
 
波長(zhǎng)重復(fù)性
 
±0.1nm
 
光度范圍
 
0-200%T,-4.0to4.0Abs,0to9999Conc
 
光度精度
 
±0.001Abs(0~0.5Abs);±0.002(0.5~1.0Abs);±0.1.5%T
 
雜散光
 
≤0.03%T.@220nm,340nm處
 
光譜帶寬
 
1.8nm(1nm可選)
 
穩(wěn)定性
 
±0.001A/h在500nm處
 
顯示
 
LCD320×240bit;精確至0.1nm
 
數(shù)據(jù)輸出
 
RS-232C標(biāo)準(zhǔn)接口
 
打印機(jī)接口
 
并行打印口,HP,Epson噴墨激光兼容打印機(jī)
 
外形尺寸
 
620×400×280(mm)
 
重量
 
21kg
 
主要特點(diǎn)
 
1.采用高精度細(xì)分系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)光柵,保證了波長(zhǎng)準(zhǔn)確
 
性、波長(zhǎng)重復(fù)性和更高分辨率。
 
2.斷電保持:斷電時(shí)可保持內(nèi)存的測(cè)量數(shù)據(jù)不丟失。人性化的外型設(shè)計(jì)、29位觸摸式按鍵,使您的
 
操作更為方便。
 
3.采用大屏幕液晶顯示器顯示圖形、參數(shù)和曲線。
 
4.儀器內(nèi)部采用插鍵式組裝方法,更換零件無(wú)須工具,維修方便。
 
5.可聯(lián)接電腦進(jìn)行大量的數(shù)據(jù)處理。
 
儀器介紹
 
UV-2802型紫外/可見分光光度計(jì)
 
由美國(guó)UNICO和英國(guó)劍橋CAMSPEC聯(lián)合設(shè)計(jì)。產(chǎn)品已通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證和英國(guó)dBTechnology測(cè)試中心CE認(rèn)證。
 
軟件功能強(qiáng)大,如:光譜掃描、動(dòng)力學(xué)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試、建立標(biāo)準(zhǔn)曲線、定量測(cè)試、DNA/Protein測(cè)試。
 
其它附屬功能:
 
A:波長(zhǎng)校準(zhǔn)
 
B:光度精度復(fù)核
 
C:波長(zhǎng)精度復(fù)核
 
D:能量zui大點(diǎn)尋找(用于微量測(cè)試)
 
E:可直接連接HP和Epson打印機(jī)打印實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和圖譜。
 
主要功能:
 
分光光度計(jì)模式
 
定波長(zhǎng)測(cè)試T、A;
 
標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試濃度C;
 
光譜掃描
 
掃描間隔0.1、0.2、0.5、1、2、5nm;
 
掃描區(qū)間可任意設(shè)定;高中低三檔掃描速度;
 
坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定,T/A/E模式轉(zhuǎn)換;
 
尋找波峰、波谷功能;
 
動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)(時(shí)間掃描)
 
多波長(zhǎng)測(cè)試(測(cè)試波長(zhǎng)可達(dá)10個(gè);測(cè)試樣品1—8個(gè))
 
濃度標(biāo)準(zhǔn)曲線建立
 
DNA/Proten測(cè)試:
 
自動(dòng)測(cè)試,測(cè)試波長(zhǎng)缺省值為260nm、280nm、320nm,也可修改;
 
可計(jì)算DNA、Protein的濃度和比率
 
其他功能:
 
波長(zhǎng)校準(zhǔn)
 
光度精度復(fù)核
 
波長(zhǎng)精度復(fù)核
 
能量zui大點(diǎn)尋找(用于微量測(cè)試,需選配8聯(lián)自動(dòng)樣品架)
 
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